RC3175/RC2175
Low-e膜層四點(diǎn)電阻測(cè)試儀
RC2175 | RC3175 | 單位 | |
量程 | 0-1999 | 0-199.9 | Ohms/square |
讀數(shù) | 1 | 0.1 | |
精度 | 3% | 0.9% |
國(guó)家玻璃質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心
地 址：河北省秦皇島市河北大街西段91號(hào)
郵 編：066004
電 話：0335-5911598
手 機(jī)：13633332990
傳 真：0335-8051865
E-mail：wanglixiang100@163.com
網(wǎng) 址：http://m.akramfoundation.com
聯(lián)系人：王立祥
